אתה נמצא כאן  :  בית  ››  תמיכה  ››  מונחון

פניה ישירה למענה מהיר


אני:

לחלופין, צור אתנו קשר בערוצים הבאים:

אם אינך בטוח איזה מוצר אתה זקוק, נסה את שלנו חיפוש מוצרים

תמיכה

מונחים מעולם ספקי הכוח

ליקטנו מונחים ע"מ לסייע בהבנת המינוח והקיצורים השונים הקשורים בתחום ספקי הכוח. בחר את האות הרלוונטית כדי להתחיל חיפוש.

A From 'A' to 'AWG'
B From 'Back Electromotive Force (Back EMF)' to 'Bus Converter '
C From 'C' to 'Curve B (or Class B)'
D From 'dB' to 'Dynamic Load'
E From 'Earth' to 'External Fusing'
F From 'F' to 'Fusible Link'
G From 'Galvanic' to 'Grounded'
H From 'H' to 'Hz'
I From 'I ' to 'Isolation Voltage'
J From 'J ' to 'Junction Field Effect Transistor (JFET)'
K From 'K' to 'kWh'
L From 'L ' to 'LVD'
M From 'Magnetic Amplifier (Mag Amp)' to 'Multi-Resonant Topology (MRT)'
N From 'Nano ' to 'NTC'
O From 'OCV' to 'OVP'
P From 'P' to 'PWM '
Q From 'Quarter Brick ' to 'Quarter Brick '
R From 'R' to 'RS485'
S From 'S' to 'System International d’Unites (SI)'
T From 't' to 'TUV '
U From 'U' to 'USB'
V From 'V' to 'Vss'
W From 'W' to 'Working Voltage'
X-Z From 'X ' to 'Zetta '
# From '°C ' to '°F '

Term of the day : 'Highly Accelerated Life Testing'

A process developed to uncover design defects and weaknesses in electronic and mechanical assemblies using a selection of parameters to stress the product (including vibration, temperature changes, ac input level, etc.). It is a technique that addresses reliability issues at an early stage in product development, offering significant advantages over more traditional techniques.

PAGE TOP

PAGE TOP